Page 46 - 理化检验-物理分册2024年第九期
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                 试验技术与方法                                                            DOI:10.11973/lhjy-wl240170



                     基于聚焦离子双束电镜的透射电镜微柱试样制备



                                                高倩雯,李怡雪,冯 丹,史学芳
                                            (西北工业大学 分析测试中心,西安 710072)

                      摘  要:利用聚焦离子双束电镜在传统透射电镜试样制备的方法上进行改进,通过改变离子束辅
                  助沉积的区域及作用,以及将U形切改良为L形切,成功提取压缩后的小鼠骨骼微柱试样至专用铜
                  网上。提取出的试样通过离子束精确减薄后,可在透射电镜下观察到胶原纤维走向。
                      关键词: 微柱;聚焦离子双束电镜;透射电镜试样;Pt沉积层;L形切
                      中图分类号:TB30;TH742      文献标志码:A    文章编号:1001-4012(2024)09-0030-04
               Preparation of transmission electron microscopy microcolumn samples based on
                                  focused ion beam-scanning electron microscopy


                                           GAO Qianwen, LI Yixue, FENG Dan, SHI Xuefang
                             (Analytical & Testing Center, Northwestern Polytechnical University, Xi'an 710072, China)

                      Abstract:  By  using  focused  ion  beam-scanning  electron  microscopy  to  improve  the  traditional  method  of
                  transmission electron microscopy sample preparation. By changing the area and effect of ion beam assisted deposition,
                  and improving the U-shaped cut to L-shaped cut, the compressed mouse bone micro-pillars samples were successfully
                  extracted onto a dedicated copper mesh. The extracted sample could be precisely thinned by ion beam, and the direction
                  of collagen fibers could be observed under transmission electron microscopy.
                      Keywords:  micro-pillar;  focused  ion  beam-scanning  electron  microscopy;  transmission  electron  microscopy
                  sample; Pt deposition layer; L-shaped cut

                  为了更好地研究材料在微观尺寸下的变形机                           体材料的表面,且提取出的薄片长度均大于8 μm,
              制,众多学者开始采用微柱压缩试验来研究材料                             最终TEM试样薄区长度一般约为5 μm,但对于长
                              [1]
              的微观力学性能 。其中透射电子显微镜(TEM)                           度为1~8 μm的微尺度材料,由于其尺寸较小、形状
              是研究材料微观结构及其元素分布的重要设备,                             各异,TEM试样的制备较困难。近年研究中,一些

              利用 TEM 可对微柱内部发生的变形进行观察,因                          学者提出了利用FIB-SEM制备微米级粉末颗粒的
              此 TEM 微柱试样的制备质量对 TEM 表征有较大                        TEM试样技术,其中KIM等 用焊料作为包埋剂,
                                                                                           [4]
              影响。                                               结合FIB制备了TEM试样。LIU等 利用纳米操控
                                                                                                [5]
                  聚焦离子双束电镜(FIB-SEM)具有制样精度                       手的翻转,以及在颗粒下使用一小片钨针作为支撑,
              高、检测速率快等优点,FIB-SEM可以在高分辨率
                                                                分析了颗粒整个横截面的元素分布情况。微柱变形
              扫描电子显微图像监控下进行聚焦离子束微纳米加
                                                                试样作为微尺度材料的一种,位于块状材料的凹坑
              工,充分利用了离子束和电子束的优点,并有效避免
                                                                内,微柱尺寸较小且周围被挖空。要将其制备成保
              了两者的缺陷。利用FIB-SEM制备特定位置、特定
                                                                留微柱内部裂纹的高质量TEM试样,须保证压缩
              取向、特殊形状的TEM试样已经成为其重要应用之
                                                                后微柱的完整性,且不能改变试样的内部组织结构。
              一  [2-3] 。在制备常规TEM试样时,制样区域位于块
                                                                笔者对FIB-SEM制备TEM试样的常规方法进行了
                                                                改进,成功制备出微柱变形试样的TEM试样,研究
                 收稿日期:2024-06-20
                                                                结果可为微柱及凹坑内试样的TEM试样制备提供
                 作者简介:高倩雯(1990-) ,女,硕士,主要从事聚焦离子束加
              工技术的研究工作,gaoqianwen@nwpu.edu.cn                   技术参考。
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