Page 37 - 理化检验-物理分册2022年第八期

DOI : 10.11973 / lh jy -wl202208006

玉米淀粉的扫描电镜分析方法

张明珠 1 , 2 ,郝明欣 1 , 2 ,桑 喆 1 , 2

( 1. 中国科学院 宁波材料技术与工程研究所,宁波 315201 ;

2. 宁波新材料测试评价中心有限公司,宁波 315042 )

摘 要: 利用 Re g ulus8230 型高分辨率扫描电镜对导电性能较差的玉米淀粉进行微观形貌观
察, 对比分析了试样分散方法、 喷金处理及不同电压模式对玉米淀粉扫描电镜图像质量的影响。结
果表明: 超声波分散法可获得更加均匀的颗粒分布, 有利于对玉米淀粉的微观形貌进行观察; 对喷
金处理后的玉米淀粉进行扫描电镜低倍观察时, 荷电效应降低, 图像质量得到改善; 对喷金处理后
的玉米淀粉进行扫描电镜高倍观察时, 颗粒表面出现裂纹, 因此不建议进行喷金处理; 对未喷金处
理的玉米淀粉采用电子束减速模式进行观察, 可显著提升扫描电镜的图像质量。
关键词: 玉米淀粉;扫描电镜;超声波分散法;喷金处理;电子束减速模式

中图分类号: TN16 文献标志码: A 文章编号: 1001-4012 ( 2022 ) 08-0021-04

Scannin g electronmicrosco p eanal y sismethodforcornstarch

ZHANG Min g zhu , HAO Min g xin , SANGZhe 1 , 2
1 , 2
1 , 2

( 1.Nin g boInstituteofMaterialsTechnolo gyandEn g ineerin g , CAS , Nin g bo315201 , China ;

2.Nin g boNew MaterialTestin gandEvaluationCenterCo. , Ltd. , Nin g bo315042 , China )

Abstract : Re g ulus8230hi g hresolutionscannin g electronmicrosco p ewasusedtoobservethemicrostructure

ofcornstarch with p oorconductivit y .Theeffectsofsam p ledis p ersion method , g olds p ra y in gtreatmentand

differentvolta g emodesontheima g eq ualit yofscannin gelectron microsco p eofcornstarch werecom p aredand

anal y zed.Theresultsshowedthattheultrasonicdis p ersionmethodcouldobtainmoreuniformp articledistribution ,

whichwasconducivetotheobservationofthemicrostructureofcornstarch.Thechar g eeffectwasdecreasedand

theima g eq ualit y wasim p roved whenthecornstarchafterg olds p ra y in g wasobserved b yscannin gelectron

microsco p eatlow ma g nification.Whenthecornstarchafterg olds p ra y in g wasobservedb yscannin gelectron

microsco p eathi g hma g nification , cracksa pp earedonthep articlesurface , sog olds p ra y in gwasnotrecommended.

Fornon- g olds p ra y edcornstarch , electronbeam deceleration modeshouldbeusedforobservation , whichcould

si g nificantl y im p rovetheima g e q ualit yofscannin gelectronmicrosco p eanal y sis.

Ke y words : corn starch ; scannin g electron microsco p e ; ultrasonic dis p ersion method ; g old s p ra y in g

treatment ; electronbeamdecelerationmode
淀粉是食品加工中常用的原材料, 随着居民生活 观形貌观察, 目前常用的方法有光学显微镜法和扫描
水平的不断提高, 市场对其需求逐渐增大, 淀粉材料 电子显微镜( SEM ) 法, 由于放大倍数及景深的限制,
的深加工也受到越来越多的关注, 其中纳米多孔淀粉 光学显微镜很难获得良好的分析结果, 而扫描电子显
在吸附领域的应用引起了广泛关注 [ 1-2 ] 。淀粉材料多 微镜具有大景深和高放大倍数等特点, 被越来越多地
为细小的粉体颗粒, 无法通过肉眼准确地区分出淀粉 应用于淀粉微观形貌的观察 [ 3-7 ] 。

的种类、 孔隙尺寸及分布等信息。针对淀粉材料的微 笔者充分利用 Re g ulus8230型高分辨率场发射扫
描电镜的高放大倍数、 高分辨率、 大景深、 立体感强、 具
备电子束减速模式等特点, 对玉米淀粉材料进行微观
收稿日期: 2021-12-08
作者简介: 张明珠( 1988- ), 女, 工程师, 主要从事材料力学、 扫 形貌观察, 对比分析了超声波分散方法、 喷金处理及不
同电压模式对玉米淀粉材料的 SEM 图像质量的影响。
描电镜等方面的分析测试研究工作, zhan g mz2013@163.com
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