Page 79 - 理化检验-物理分册2024年第十一期
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蒋蓉蓉,等:离子束抛光仪的维护保养


















                                       图 9  试样靠近遮蔽板边缘抛光区域并被反沉积污染前后的 SEM 形貌

              板靠近试样时,两者为线接触,即试样上只有一条线                           贴合缝隙不要过大。如果试样表面起伏过大,可以
              的区域受力。当挡板和试样刚好贴合时,试样可依                            用树脂包埋,使其有一个平整的贴合面。
              旧保持垂直,和支撑板之间有大面积的铜双面胶带
                                                                5  结语
              黏贴固定。但是,当遮蔽板和试样贴合过紧时,试样
              很容易受遮蔽板的推力而倾斜。试样倾斜造成试样                                 总结了Leica EM TIC 3X型三离子束抛光仪日
              和支撑板之间产生缝隙,只剩线接触,导致试样固定                           常维护、保养的主要注意事项,同时分析了仪器运行
              不稳。在后续的抛光过程中,试样长时间被一定电                            过程中的常见问题及其解决方法,研究结果有助于
              压的离子束轰击,产生热量,铜双面胶带受热后胶                            仪器管理者对离子束抛光仪进行更好地维护、保养,
              体软化,导致黏性变差,试样在重力作用下会向下移                           使仪器达到更好的运行状态,制备出更高质量的试
              动,甚至坠落。试样上初始设定的抛光区域一旦移                            样,以得到更可靠的分析结果。
              动下滑,就会使试样的目标抛光区域低于离子束作
                                                                参考文献:
              用最强、流速最大的区域。在这种情况下,该区域的
              离子沉积速率会大于被轰击速率,会成为反沉积的                              [1]  ERDMAN N,CAMPBELL R,ASAHINA S.Precise
              温床。                                                    SEM cross section polishing via argon beam milling[J].
                  试样和挡板之间的缝隙过大导致试样表面被反                               Microscopy Today,2006,14(3):22-25.
                                                                  [2]  LOUCKS  R  G,REED  R  M,RUPPEL  S  C,et  al.
              沉积污染(见图10)。试样和挡板之间的缝隙是离子
              束作用的死角,被溅射出来的离子更容易往离子浓                                 Morphology,genesis,and distribution of nanometer-scale
                                                                     pores in siliceous mudstones of the Mississippian barnett
              度低的地方移动,导致试样表面被反沉积污染。这
                                                                     shale[J].Journal of Sedimentary Research,2009,79(12):
              种情况没有污染抛光区域,只是在最外侧多了一层
                                                                     848-861.
              溅射层,虽然不影响观察试样的抛光断面,但是容易                             [3]  武磊,刘卫国,蔡长龙,等.ZnS离子束抛光过程中的粗
              产生误导性结果。消除这种反沉积现象的方法是在                                 糙度演变[J].西安工业大学学报,2014,34(12):947-952.
              抛光区域侧面增加一层胶带保护层,制样后反沉积                              [4]  马波,刘卫国,周顺,等.宽束径离子束抛光KDP晶体
              层随着胶带一并去除。还可以在离子抛光前进行前                                 表面粗糙度特征研究[J].西安工业大学学报,2020,
              处理,使试样表面尽量平整,同时控制试样和挡板的                                40(6):589-597.
                                                                  [5]  张革,崔云,赵娇玲,等.同时制备多个透射电镜截面
                                                                     试样的离子减薄方法[J].理化检验(物理分册),2023,
                                                                     59(10):27-29.
                                                                  [6]  王燕飞,黄宛真,郑遗凡,等.脆性材料截面透射电
                                                                     镜样品的制备[J].理化检验(物理分册),2011,47(4):
                                                                     225-228.
                                                                  [7]  JIANG  R  R,LI  M,YAO  Y  R,et  al.Application  of
                                                                     BIB  polishing  technology  in  cross-section  preparation
                                                                     of  porous,layered  and  powder  materials:a  review[J].
                      图 10  试样表面被反沉积污染的 SEM 形貌                       Frontiers of Materials Science,2019,13(2):107-125.


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