Page 23 - 理化检验-物理分册2024年第六期

来 萍，等：钢晶粒度的截距直接测量法

Leica QWin Plus两种金相图像处理软件的截距直 ③ 对于双相或者多相组织试样，测量方向上基体相
接测量法界面。 外的第二相晶粒无需测量，只须保证基体组织铁素
进行截距法直接测量时需要注意以下几个方面： 体晶粒测量的连续性；④ 晶粒测量截线必须平直，
① 测量方向最好选择水平方向，这样易于操作和质 不允许转折、弯曲。
量控制，对于非等轴晶粒也可以选择垂直方向和其 2.2 单视场内截距测量数量的确定
他方向，在计算某个方向上的平均晶粒截距时，应尽 用截距直接测量法测量晶粒度时，单视场内须测
量保证图片上所有晶粒的测量方向是一致的；② 在 量一定数量的晶粒，以保证结果的代表性和统计性。
一个方向上，对起始测量晶粒到终止测量晶粒中所 如果测量晶粒个数过多，测量时间较长，就会降低工
有基体晶粒进行连续测量（见图4），不允许有跳跃， 作效率；如果测量晶粒个数过少，就会导致测量结果
即不允许有不测量某个晶粒的情况发生，避免人为 不准确，因此找到合适的晶粒测量个数十分重要。在
选择过大或偏小的晶粒进行测量而造成结果不准确； 同一张图片上分别选取20，30，50，70，80，100，120，
150个晶粒进行截距测量 （见图5），得出平均截距，并
计算其晶粒度级别，结果如图6所示。由图6可知： 选
取20，30，50个晶粒进行测量时，由于测量数量相对
较少，晶粒截距变化较大，故此时的晶粒截距不能代
表整个测量视场晶粒的平均截距；当晶粒个数大于70
个时，晶粒度平均截距逐渐趋于稳定，与查表所得的
晶粒度级别相同，均为8.5级。因此，当测量晶粒数大
于70时，其晶粒度评定结果可以代表整个测量视场
图 4 截距直接测量法测量晶粒图例 的晶粒度评定结果。

图 5 不同晶粒个数的测量过程
2.3 截距法测量和验证结果分析 2017中式（15），得出晶粒度级别为8.42级。
利用截距直接测量法对超低碳IF钢采集的5个 另外，使用GB/T 6394—2017中截点法对超低
视场的晶粒图片进行晶粒截距测量，每个图片选取 碳IF钢进行测量， 具体测量过程如下所述。
80 个晶粒进行测量。5 个视场的测量结果分别为 （1）在晶粒度图片上设置 5 条测量直线 （见
18.59，17.24，17.78，16.49，16.17 μm，最终的平均截 图7），测量直线总长度L为1.679 6 mm。
距是 17.3 μm，根据GB/T 6394—2017 中表 6，得出 （2）对图片上测量直线经过的晶粒进行截点数
所对应的晶粒度级别为 8.5 级，根据GB/T 6394— 计数，分别为20，19.5，21，20.5，22个，图片内总截
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