Page 48 - 理化检验-物理分册2021年第十一期

焦宗寒, 等: 某500kV 变电站隔离开关软连接失效的原因

25% , 维氏硬度为60~90HV 。

按标准 GB / T228.1-2010 《 金属材料 拉伸试
验第1部分: 室温试验方法》 规定, 开展拉伸试验, 结
果见表 2 , 可知断裂铜箔的抗拉强度和断后伸长率
均不符合设计要求。
表2 断裂铜箔的拉伸性能检测结果

Tab 2 Testresultsoftensile p ro p ertiesoffracturedco pp erfoil
检测项目 抗拉强度 / MPa 断后伸长率 / %
图6 铜箔断口的微观形貌
检测值1 298 1.05

Fi g 6 Micromor p holo gy offractureofco pp erfoil
检测值2 310 0.91
2 结论及建议
检测值3 296 1.12
采用 BuehlerVH1102型显微硬度计对断裂铜 ( 1 )失效软连接为铜板与多片铜箔压焊而成,

箔表面进行显微硬度测试, 测试载荷为 0.98N , 保 铜板倒角尺寸不均匀, 两者压焊加工时, 在外力作用

荷为10s , 按标准 GB / T4340.1-2009 《 金属材料 下, 铜箔与铜板过渡位置产生压裂。同时, 铜箔硬度

维氏硬度试验 第1部分: 试验方法》, 开展维氏硬度 高, 抗拉强度高, 延伸率低, 韧性差, 隔离开关工作中
试验。由表3可见, 该铜箔硬度较高。 软连接需要反复折弯, 最终导致铜箔断裂, 而使软连
表3 断裂铜箔的硬度试验结果 接失效。

Tab 3 Hardnesstestresultsoffracturedco pp erfoil ( 2 )建议选用韧性较好的 T2紫铜箔制作软连

项目 维氏硬度 / HV0.1 接, 对新的铜箔软连接外层铜箔表面进行渗透检测。
检测值 114.3 , 113.8 , 111.9
参考文献:
软连接是由铜板与多片铜箔压焊而成, 铜箔硬
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度高, 韧性差, 易在压焊位置产生裂纹。并且软连接
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压技术, 2001 , 27 ( 5 ): 72-75.
1.4 扫描电镜及能谱分析 [ 3 ] 崔景春, 袁大陆, 宋杲. 高压隔离开关运行分析及其完
用扫描电镜对铜箔断口进行观察, 如图6所示, 善化[ J ] . 电器工业, 2007 ( 2 ): 51-56.
可见断口较疏松, 存在大量絮状腐蚀产物, 断口未见 [ 4 ] 盛明学, 王志清. 户外高压隔离开关常见故障的原因
裂纹、 韧窝、 光亮断面等断口特征。铜箔断裂后, 断 分析与处理[ J ] . 高压电器, 2010 , 46 ( 10 ): 93-96.
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析, 检测到断口表面主要含碳、 氧元素, 推测是受大 力, 2004 , 32 ( 6 ): 55-56.
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