Page 47 - 理化检验-物理分册2020年第二期

韩天棋, 等: A g CuV 合金导电滑环内部缺陷产生原因分析

测, 以保证导电滑环的质量.某 A g CuV 合金导电 传统 的 手 持 接 触 法 超 声 检 测, 因 厚 度 ５~
滑环在超声检测时发现其内部有缺陷, 笔者对其进 １０mm板材的检测区处在近场区范围, 很难保证得
行了一系列检验及分析, 以期此类缺陷不再产生. 到试样 缺 陷 的 真 实 情 况 [ １４ ] . 目 前 对 于 厚 度 小 于
１０mm的板材, 没有相应的超声波检测国家标准, 因
１ 理化检验
此也没有相应的对比试块.依据试块设计原则, 设
１．１ 化学成分分析 计了与被检测试样具有相同声程的试块, 然后对试
依照 GB / T１５０７２．２－２００８ « 贵金属合金化学分 样的缺陷反射波与对应深度的对比试块的平底孔反
析方法 银合金中银量的测定 氯化钠电位滴定法»、 射波进行比较, 表 ２ 为设计的对比试块的信息.对
GB / T１５０７２．８－２００８ « 贵 金 属 合 金 化 学 分 析 方 法 比试块与被检测试样具有相同的表面状态和厚度,
金、 钯、 银合金中铜量的测定 硫脲析出 EDTA 络合 使用与被检测试样相同的材料制备, 除人工缺陷外
返滴定法»、 GB / T１５０７２．１９－２００８ « 贵金属合金化 再无其他缺陷.
学分析方法 银合金中钒和镁量的测定 电感耦合等 表 ２ 对比试块信息
离子体原子发射光谱法»、 GJB９５０A．１－２００８ « 贵金 Tab敭２ Com p arin gblockinformation mm
属及其合金微量元素分析方法 第 １ 部分: 电感耦合 试块编号 试块厚度 孔 １ 埋深 孔 ２ 埋深 孔 ３ 埋深
等离子体原子发射光谱法» 的要求, 对该 A g CuV 合 １ ５ １．５ ２．５ ４．５
金导电滑环进行化学成分分析, 结果见表 １ .结果 ２ ７ １．５ ３．５ ６．５
表明该 A g CuV 合金导电滑环的银、 铜、 钒及其他杂 ３ １０ １．５ ５．５ ８．５
质元素均符合 GJB９５３A－２００８ « 贵金属及 其合金
在超声检测前对试样表面进行磨抛处理, 选用
板、 片、 带材规范» 对 A g CuV 合金化学成分的要求. １０MHz的聚焦探头进行水浸超声检测 [ １５ ] , 结果如
表 １ A g CuV 合金导电滑环的化学成分( 质量分数)
图 ２ 所示, 图 ２ 中导电滑环上方的倒三角为焊接焊
Tab敭１ Chemicalcom p ositionsofA g CuVallo y conductive
口.将底波出现衰减的位置与导电滑环表面对应观
sli p rin g massfraction ％
察, 若未有表面伤, 则可判断该位置为内部缺陷.
项目 Cu V Fe Pb Sb Bi A g
实测值 １０．５０ ０．２１ ０．１１ ０．００３ ０．００２ ０．０２５ ８９．１５

１０．００± ≥ ＜ ≤ ≤ ≤ ９０．００±
标准值
１．００ ０．１５ ０．１５ ０．００５ ０．００５ ０．００５ １．００
１．２ 超声检测
使用 CＧSCANＧARS 型 扫 描 检 测 系 统, 依 照
GB / T２９７０－２０１６ « 厚 钢 板 超 声 检 验 方 法 » 对

A g CuV 合金导电滑环的缺陷位置进行检测.
图 ２ A g CuV 合金导电滑环的底波 C 扫图像
A g CuV 合金导电滑环的厚度为 ５mm , 外径为
Fi g 敭２ ThebottomwaveCＧscanima g eofA g CuV
１２５ mm , 内 径 为 １２０ mm , 其 形 状 示 意 图 如 图 １ allo y conductivesli p rin g
所示.
联合 A 扫 曲 线, 可 进 一 步 分 析 缺 陷 情 况,
A g CuV 合金导电 滑 环 的 A 扫 曲 线 与 C 扫 图 像 如
图 ３ 所示.可见 A 扫描曲线中底波衰减明显, 由此
可判断该 A g CuV 合金导电滑环存在缺陷, 并确定
了该 A g CuV 合金导电滑环的缺陷位置.
１．３ 金相检验
使用 Zeiss型金相显微镜对 A g CuV 合金导电
滑环进行金相检验, 依照 GB / T１３２９８－２０１５ « 金属

显微组织检验方法» 进行金相试样的制备与检验.
图 １ A g CuV 合金导电滑环示意图
图 ４ 为 A g CuV 合金导电滑环缺陷处的宏观形貌.
Fi g 敭１ Dia g ramofA g CuVallo y conductivesli p rin g
在 A g CuV合 金 导 电 滑 环 的 缺 陷 处 取 样 , 经 磨
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