Page 46 - 理化检验-物理分册2020年第二期
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DOI : １０．１１９７３ / lh jy Ｇwl２０２００２００９


                    A g CuV       合金导电滑环内部缺陷产生原因分析



                                            韩天棋 ,齐岳峰 ,王   峰 ,焦   磊          ２
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                                         ( １． 北京有色金属与稀土应用研究所,北京 １０００１２ ;
                                 ２． 北京市电子信息用新型钎焊材料工程技术研究中心,北京 １０００１２ )
                    摘   要: A g CuV 合金导电滑环在进行超声检测时发现有内部缺陷的存在.采用化学成分分析、
                 超声检测、 金相 检 验、 扫 描 电 镜 及 能 谱 分 析 等 方 法 对 缺 陷 产 生 的 原 因 进 行 了 分 析.结 果 表 明:
                A g CuV 合金导电滑环经超声检测发现的内部缺陷是裂纹, 脆性的含钒第二相与 A g Cu合金基体的
                 结合力弱并且易碎, 在应力集中处产生了微裂纹, 微裂纹沿着第二相与基体结合力弱的部位扩展,
                 最终导致 A g CuV 合金导电滑环内部缺陷的产生.
                    关键词: 导电滑环;超声检测; A g CuV 合金;裂纹;元素偏析;第二相
                    中图分类号: TG１４６    文献标志码: B    文章编号: １００１Ｇ４０１２ ( ２０２０ ) ０２Ｇ００３５Ｇ０４

                 CauseAnal y sisonInternalDefectsofA g CuVAllo yConductiveSli pRin g

                                                                       １
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                                        HANTian q i , IYuefen g １ , WANGFen g JIAOLei ２
                          ( １．Bei j in gNonＧferrousMetalandRareEarthResearchInstitute , Bei j in g１０００１２ , China ;
                    ２．Bei j in gEn g ineerin gTechnolo gyResearchCenterofNewBrazin g MaterialsforElectronicInformation ,
                                                   Bei j in g１０００１２ , China )
                     Abstract : Durin g theultrasonictest , theA g CuVallo y conductivesli p rin gwasfoundtohaveinternaldefects．
                Thecausesofdefectswereanal y zedb y meansofchemicalcom p ositionanal y sis , ultrasonictest , metallo g ra p hic
                examination , scannin gelectronmicrosco p eandener gy s p ectrumanal y sis．Theresultsshowthattheinternaldefects
                oftheA g CuVallo y conductivesli p rin gwerecracks．Thebrittlesecondp hasewithvanadium madethebindin g force
                betweenbrittlesecondp haseandA g Cuallo y matrixweak , and microcracksa pp earedatthestressconcentration．
                Themicrocracksp ro p a g atedalon gthep artwith weakbondin gforcebetweenthesecondp haseandthe matrix ,
                whicheventuall y ledtotheformationofinternaldefectsintheA g CuVallo y conductivesli p rin g ．
                     Ke y words : conductivesli p rin g ; ultrasonictest ; A g CuVallo y ; crack ; elementse g re g ation ; secondp hase

               导电滑环是将静止设备上的各种信号传输给旋                            拉强度也较高, 并且具有较低的电阻率                 [ ８Ｇ９ ] , 因此十
            转设备, 以实现两个相对转动机构的图像、 数据信号                          分适合用来制备导电滑环.
            及动力传递的精密输电装置.近几年该装置已实现                                 传统的真空熔炼工艺, 因熔铸温度高, 浇铸时缩
            了标准化、 批量化生产, 被广泛应用于安防、 工厂自                         孔较大等特点      [ １０ ] , 钒很难直接熔铸到 A g Cu 合金基
            动化、 电力、 仪表、 航空、 军事等机电设备              [ １Ｇ３ ] .导电   体中, 且 熔 铸 后 易 出 现 气 孔、 裂 纹 等 缺 陷 和 钒 在
            滑环由滑环和滑丝两个主要部分组成, 其中对于滑                            A g Cu合金基体中弥散不均等现象.导电滑环中若
            环, 要求所用材料导电率高、 导热性能好、 熔点高、 电                       存在内部缺陷, 如裂纹、 气孔、 夹杂等             [ １１ ] , 在导电滑
            阻温度系数小的同时, 还要具有较好的耐磨性和滑
                                                               环的使用过程中可能会产生尖端放电或电磁干扰等
            动接触特性      [ ４Ｇ６ ] . A g CuV 合金是银基含铜和钒的三
                                                               情况, 影响电流的传 输, 导 致 信 号 丢 失          [ １２Ｇ１３ ] .随 着
            元合金, 具有较好的塑性加工能力               [ ７ ] , 维氏硬度和抗
                                                               导电滑环使用时间的增加, 导电滑环的浅层缺陷逐
                                                               渐显露, 使得导电滑丝与导电滑环表面接触不良, 导
                收稿日期: ２０１９Ｇ０４Ｇ０９
                作者简介: 韩天棋( １９９２－ ), 女, 工程师, 主要从事有色金属封装         致导电滑环 出 现 环 火 烧 损 事 故.因 此, 在 A g CuV
                                                               合金导电滑环投入使用前, 有必要对其进行超声检
            材料与功能材料的研究, １４５６８４８６９０＠ qq ．com
                                                                                                         ３ ５
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